E+H 导波雷达物位计适用于所有液位测量和界面测量（liàng）的基本应用，产品（pǐn）结构有6部分（fèn）组合成：电子腔（qiāng）外（wài）壳、过程连接(法兰)、缆式探头、探头末（mò）端的（de）配置快、杆式探头、同轴探头。物位计改善和提（tí）高了化工、石油（yóu）及天然气、制（zhì）药、能源、源水和污水、食品、散料处理（lǐ）、纸浆及（jí）造纸、造（zào）船和海上运（yùn）输等（děng）领域的过程效益。同时可提供适用于在危险区域，卫生型场合，过溢保护和其它特殊应用场合使用的认证（zhèng）证书。

　　E+H 导波雷达物位（wèi）计优点：

　　1、 可靠的测量值，测量（liàng）值不受介质变化、温度变化、气体覆盖或蒸汽的影响;

　　2、 适用性强，内（nèi）置数（shù）据存储器;

　　3、 直观的菜单引导式（shì）操作，多种语言可选

　　4、 便于集（jí）成到控制或资产管理系统中

　　5、 精（jīng）确的（de）测量和过（guò）程（chéng）诊断，便于快速决策

　　E+H 导波雷达物位Levelflex分为9个系列：FMP50、FMP51、FMP52、FMP53、FMP54、FMP55、FMP56、FMP57。

　　Levelflex FMP50适用于温度、压力或耐腐蚀性要求（qiú）不高的测量场合，是储罐以及公用设施等基本型应用的最佳选择。采用多回波追踪（zōng）创新技（jì）术，为测量（liàng）结果（guǒ）带来高度可靠（kào）性，用于液体、浆料和泥浆的连续物位测量。

　　Levelflex FMP51适用于过程工业极端工况下的液位测量，如高温、高压等场（chǎng）合。硬件与软件根据IEC 61508标准开发，达到SIL3级别，主要用于液（yè）体、浆料和泥浆的连续物（wù）位测（cè）量以及界（jiè）面测量。

　　Levelflex FMP52带涂层的探杆，适用于腐蚀性液（yè）体测量，所有的接液部件均采用FDA认证的材质，用于液体、浆料和泥浆的连续性物（wù）位测（cè）量，也用于界面测量。

　　Levelflex FMP53用于卫生要求高的食品和生命（mìng）科学行业的连续物位（wèi）测量，符合ASME BPE和USP VI级的卫生要求。FMP53不需要从过程中拆除，可在原位（wèi）清洗，具有独特的成本优势。

　　Levelflex FMP54特别适用于油气、化工和电力（lì）等（děng）行业的高温高压（yā）测量场（chǎng）合（hé）。采用陶瓷-石墨密封（fēng）的过程连接，能保证在高温高压场合（hé）的使用安全同时，气密馈（kuì）通能提供更高的安全性。在高（gāo）压的带气相（xiàng）层的液位测（cè）量中，只（zhī）有（yǒu）带气相补偿技术的FMP54才能提供准确可靠的测（cè）量结果。

　　Levelflex FMP55适用于界面测量（liàng），采用传感器（qì）融合技术，是（shì）全球首创的融合电容测量和（hé）导向雷达技术为一体的仪表。FMP55能确保在有乳剂层的工况下，连（lián）续稳（wěn）定的获（huò）得液位和界面测量值。FMP55多参数仪表在（zài）界面测量领域，特别是石油天然气、化（huà）工（gōng）和石化行业成为新的标（biāo）杆产品。

　　Levelflex FMP56适（shì）用于固体散料物位测量的经济、高（gāo）效的基本型仪（yí）表，即使在粉尘严重的狭（xiá）窄（zhǎi）贮仓或有障（zhàng）碍物的船舱，FMP56也能提供最稳定的测量值。是用于粉状、粒（lì）状等固体散料连续物位测量。

　　Levelflex FMP57适用于固体散料物位测量，满足最高测量要求，是高贮仓、高煤仓或堆场等测（cè）量场合的最佳选择。FMP57提供长达（dá）45米的缆式探杆，适合高贮仓的测（cè）量。

　　E+H 导波雷达物（wù）位计测（cè）量原理：

　　Levelflex是基于（yú）ToF原理(行程时间)工作的“俯视式”测量系统。测量参（cān）考（kǎo）点至介质表面间的距 离。向（xiàng）探头发射高频脉冲信号，信号沿（yán）探头（tóu）传播。脉冲信号在介质表面发生反射，反射信（xìn）号被仪 表（biǎo）接收，并被转（zhuǎn）换成物位信息。此测量方法即为TDR法(时域反射法)。

　　E+H 导波雷达物位计测量原理：

　　是依据时域反射原理(TDR)为基础的雷（léi）达（dá）物位计，雷达物位计的电磁脉冲以光速沿钢缆或探棒传播，当遇到被测介质表面时（shí），雷达物位计的部分脉冲被反射（shè）形（xíng）成回波并沿相同路经返回到脉冲发（fā）射装置，发射装置与被测介质表（biǎo）面的距离同脉冲在（zài）其间（jiān）的传播时间（jiān）成正比，经计算得出液（yè）位高度。

　　E+H 导波雷（léi）达物（wù）位计界面测量（liàng）：

　　高频脉冲信号到达介质表面，仅部分脉冲信号发生反射。上层介质的介电（diàn）常数DC1较小时，未发 生反射的脉冲信号将沿探头继续向下传播。在两（liǎng）种介质的界面处发生第二次反射(在下层介质的（de）介 电常数DC2大于上层介质的介电常数)。基于行程时间原理可以（yǐ）确定仪表至界面间（jiān）的距离。同时， 还需要考虑（lǜ）脉冲信号在上层介质中传播的延迟时间。介质的介电常数（shù）(DC)直接（jiē）影响高频脉冲信号（hào）的反射率。测量大介电常数(DC)的介质时(例（lì）如：水和 氨（ān）水)，脉冲反射信号强;相反，测（cè）量小介电常数(DC)的介质时(例如：碳氢化合物)，脉冲反射信 号弱。

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