以下是我们为您介绍的关于《美国TEKTRONIX参（cān）数分析仪4200A-SCS原装供应》的文章，如您感（gǎn）兴趣，随时欢迎您来电咨询！

1、美国TEKTRONIX参数分析仪4200A-SCS原装供应（yīng）
使用4200A-SCS参数分析仪（参数测（cè）试仪）加快各类材料、半导体器件（jiàn）和先进工艺的（de）开（kāi）发（fā），完成制程控制（zhì）、可靠性（xìng）分析和故（gù）障分析。4200A-SCS是（shì）业内性能领先电学特性参数（shù）分析仪，提供同步电流电压（yā）曲线测试(I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试(C-V曲线测试)和超快脉冲（chōng）I-V曲线测量。推进大胆（dǎn）发现从未如此容易。4200A-SCS参数分（fèn）析仪从设置到运行（háng）检定测试的时间减少高达50％，从而实现无与（yǔ）伦比的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业（yè）知识提供无与伦比的测试指导，并（bìng）让您对最终（zhōng）结果充满信息。

2、美国TEKTRONIX参（cān）数分析仪4200A-SCS特性
使用吉时利最新的电容-电压单元(CVU)4215-CVU测量一位（wèi）数飞法（fǎ）。通过将1 V AC电源集成到吉（jí）时利行业领（lǐng）先的CVU架构（gòu）中，4215-CVU可在1 kHz至10 MHz的频率下进行低噪声电容测量。4200A-CVIV多通道切换模块（kuài）自动在I-V和C-V测量之（zhī）间切换，无需重新布线或抬（tái）起探头端部。与竞争产（chǎn）品（pǐn）不同，四通道4200A-CVIV显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时（shí）轻松排除故障。
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3、美国TEKTRONIX参数分析仪4200A-SCS特点
①用于DC IV、CV和脉冲IV测量类（lèi）型的高级测量（liàng）硬（yìng）件（jiàn）
②立即使用Clarius软件中所含的数百种用户（hù）可修改应用程序测试开始测试
③自动实时参数（shù）提取、数据（jù）绘图、分析函数
④同类产（chǎn）品中首款能够驱动1 V AC电源电压的CV表
⑤1 kHz频（pín）率，分辨率从1 kHz到10 MHz
⑥测量电容、电导和导纳
⑦使用4200A-CVIV多路开关最多可（kě）测量四个（gè）通道
⑧无需（xū）重新布线即可将C-V测量（liàng）移动到任何设（shè）备（bèi）终端
⑨用户（hù）可配置低电流功（gōng）能（néng）
⑩不（bú）必将仪器送回工厂即可增加SMU
⑪多达9个（gè）SMU通道
⑫针对长电缆或大卡盘进行了优（yōu）化（huà）
⑬“手动”探测器模式测试探测器功能
⑭假探测器模式无需移除（chú）命令即可实现调试

4、美国TEKTRONIX参数分析仪4200A-SCS功能
4200A-SCS是一（yī）种可以量身定制、全面（miàn）集成的（de）参数分析仪，可以同（tóng）步查看电流电压（yā）(I-V)、电容电压(C-V)和超快速脉冲式I-V特性。作为高性能的参数分析仪，4200A-SCS加快（kuài）了半导（dǎo）体、材料和工艺开发速度。4200A-SCS ClariusTM基于（yú）GUI的软件提供了清楚的（de）、不折不扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和（hé）数（shù）百项随时可以投入使用的应用测试，Clarius Software可以更深入地挖掘研究过程，快速（sù）而又满怀（huái）信心。4200A-SCS参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵（líng）活配置，不管是现在还是（shì）未来，都可以（yǐ）随时对系统进行升级。通过4200A-SCS参（cān）数分析（xī）仪，通往发（fā）现之路现在变得异常简便。

5、美国TEKTRONIX参数（shù）分析仪4200A-SCS产品I-V源测量单元(SMU)特点
①±210 V/100 mA或±210 V/1 A模块
②100 fA测（cè）量分辨率
③选配前端放大器提供（gòng）了10 aA测量分辨率
④10 mHz-10 Hz超低频率电容测量
⑤100μF负载电容（róng）
⑥四象限操作
⑦2线或（huò）4线连接

6、美国TEKTRONIX参数分析仪4200A-SCS产品C-V多频率电容单元(CVU)特点
①AC阻抗测量(C-V,C-f,C-t)
②1 kHz-10 MHz频（pín）率范围（wéi）
③±30 V(60 V差分)内置DC偏置源（yuán），可以扩（kuò）展到（dào）±210 V(420 V差分)
④选配CVIV多通（tōng）道开关，在I-V测量和C-V测（cè）量之间简便切换脉冲式（shì）I-V超快速脉冲测量单元(PMU)
⑤两个独立的或同步的高速脉冲I-V源和测量通道
⑥200 MSa/s，5 ns采样率
⑦±40 V(80 V p-p)，±800 mA
⑧瞬态波形捕获模式（shì）
⑨任意波形发生器Segment ARB®模式，支持多（duō）电（diàn）平脉冲波形，10 ns可编程分辨率

7、美国TEKTRONIX参数分析仪（yí）4200A-SCS产品高压脉冲发生（shēng）器单元(PGU)特点
①两（liǎng）个高速脉冲电压源通（tōng）道
②±40 V(80 V p-p)，±800 mA
③任（rèn）意波形发生器Segment ARB®模式，支（zhī）持多电平脉冲波形，10 ns可编程分辨率（lǜ）I-V/C-V多通道（dào）开关模块(CVIV)
④在（zài）I-V测（cè）量（liàng）和C-V测量之间简便切换（huàn），无需重新布线或抬起探针
⑤把C-V测量移动到任（rèn）意端子，无需重新布线或（huò）抬起（qǐ）探针远程前端放大器/开关模块(RPM)
⑥在I-V测量、C-V测量和超快速脉冲I-V测量之间自动切换
⑦把4225-PMU的电流（liú）灵敏度扩展（zhǎn）到（dào）数十皮安
⑧降低电缆电容效（xiào）应

8、美国TEKTRONIX参数分析仪4200A-SCS产（chǎn）品说明
使用4201-SMU和4211-SMU模块（kuài），您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测（cè）量。4200A-SCS有四（sì）种型号的源测量单位(SMU)可供选择，可通过定制满足（zú）您所有的I-V测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley可确（què）保您获得最准确（què）的低（dī）电（diàn）流测量，而停机时间很少甚至没有。4200A-SCS参数分析仪（yí）支（zhī）持（chí）许（xǔ）多手动和半自动（dòng）晶片（piàn）探测器和低温（wēn）控制器，包括MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336低温控制器。

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