以下是我们为您介绍的华联欧美国TEKTRONIX数字万用表DMM7510产品（pǐn）报价（jià）相关信息，我们保证原装正品（pǐn），货期快，型号全，欢迎您来电详询！

1、华联欧美（měi）国TEKTRONIX数字万用表DMM7510产品报价
Keithley和Tektronix提供广泛的工作台和（hé）系（xì）统（tǒng）数字万用表（biǎo）(DMM)以满足各种（zhǒng）测量要求。此系列数字万用表可满足学生实验室对基本型数字（zì）万用表的要（yào）求，以及数（shù）字万用表在组件、模块和组装产品制造测试上快速且准确的要求。DMM7510集高精度、高分辨率数字万用表(DMM)、图形（xíng）触摸屏显示器和高速（sù）、高分辨率数字化器于一（yī）身（shēn），是第一款图形采样万用表。其具有pA灵敏度和1M个样（yàng）点/秒的（de）采样（yàng）率（lǜ），能准确测量超低睡眠模（mó）式（shì）电流和传输无（wú）线设备的漏（lòu）电流。

2、美国TEKTRONIX数字万用表DMM7510性能优势
①5½位分辨率至8½位分辨率的数字（zì）万用表
②适用于校准实验室的8½位数字万（wàn）用表的（de）6ppm基本电压测（cè）量精度
③1M样本/秒的快速采样，可从物联网设备或其他无（wú）线设备捕获复杂的低电平曲线
④灵敏度达1μΩ和1pA，适用于华.联（lián）.欧（ōu）在研（yán）究、设计和制造测试过程中测试低功率设备
⑤丰（fēng）富的测量功（gōng）能（néng），例（lì）如交（jiāo）直电压、交直电流、双线和四线电（diàn）阻、连续（xù）性、周期、RTD、热敏电阻、热电偶温度、二极管测试和电容
⑥多种接口选项，其（qí）中（zhōng）包括用于采集数据和自动化测（cè）试的LAN/LXI、USB-TMC、GPIB和RS-232
⑦智能地执行测（cè）试，通过少的PC交互来创建自定义测量
⑧美国TEKTRONIX数字万用表将测量（liàng）扩展到十个通道
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3、美（měi）国TEKTRONIX数字万用表DMM7510概述
（1）适用于IOT产品漏电流消费分析的宽泛动态范围
①以高达1M个样点/秒的（de）速度采样漏电（diàn）流波形
②通过数字化器的18位分辨率在5个倍频程中进行采样

（2）出色（sè）的精度，低噪声，让用户满怀信心
美国TEKTRONIX数（shù）字万用表DMM7510具有低（dī）噪声输入级和32位A-D转换（huàn）器，体现了Keithley的低电平（píng）测量专（zhuān）长，能提供通常只有计量级仪器才有的直流精度。
特点
①14 ppm 1年（nián）直流电压精（jīng）度
②60 ppm 1年直流（liú）电流精度
③24 ppm 1年（nián）电阻精度
④内部（bù）自动校准功能

（3）可高度灵敏地测量低频信号
高（gāo）灵（líng）敏度可让DMM7510测量非常低的电压、电流和电阻，并检测微小变化和信号漂移。
特点
①直流电压灵敏度：10 nV
②电流灵敏度：1 pA
③电阻灵敏度（dù）：0.1µΩ

（4）捕获和（hé）存储超过2700万个（gè）读数
美国TEKTRONIX数字万用表轻松捕获复杂的波形曲线，研究长期稳定性，或（huò）记录环境和使（shǐ）用寿命（mìng）测试数据（jù）。DMM7510的（de）大容量内存缓冲（chōng）器（qì）可实现您的设备的完整配置文件的大量读数存储。
特（tè）点（diǎn）
①标准模式存储：1100万个读数
②压缩模式存储：2750万个读数
③所有读数都带有（yǒu）时间标记

（5）对测量结（jié）果进行观察、互动（dòng）和探索
使用（yòng）图形触摸屏显示器可视化和研究每一个波形。对于更深入的（de）分析，通过缩放轻松扩展和放大（dà）视图。

（6）测量和可视化超低漏电流
美国TEKTRONIX数字万用表低功率组件和设备变（biàn）得越来越高效（xiào）。低功率便携式产品的微控制器(MCU)和其他组件（jiàn）的睡眠模式漏电（diàn）流可（kě）能只（zhī）有几十纳安。整个产品的（de）睡眠模式状态漏电流可能为几微（wēi）安。DMM7510能以1 pA分辨率和0.375 nA容限测量1µA睡眠电流。
①增强精度模式下的1pA电流灵敏度
②60ppm读数+9ppm范围1年精度（100µA、1mA和10mA范（fàn）围）

（7）缩短测试时间
利用DMM7510的测试脚本处理嵌入式脚本能力，将DMM7510变（biàn）为智能（néng）控制器。DMM7510具有内置（zhì）智能，可执行控制程序和控制其他Keithley产品。使用DMM7510和DMM7510控制的其他仪器，消除大量PC通信，这可以帮您（nín）节（jiē）省时间。这会显著缩短测试执行时间。

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